產(chǎn)品名稱：手持式四探針測試儀 產(chǎn)品型號(hào)：M-3

手持式四探針測試儀型號(hào)：M-3

M-3型手持式四探針測試儀是運(yùn)用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測試方法國家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。 
儀器成套組成：由M-3主機(jī)、選配的四探針探頭等二部分組成，也可加配測試臺(tái)。 
儀器所有參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換全部采用輕觸按鍵輸入；具有零位、滿度自校功能；手動(dòng)/自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程可選；測試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。本測試儀采用可充電電池供電，適合手持式變動(dòng)場合操作使用！ 
探頭選配：根據(jù)不同材料特性需要，探頭可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針探頭，以測試硅類半導(dǎo)體、金屬、導(dǎo)電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻；也有球形鍍金銅合金探針探頭，可測柔性材料導(dǎo)電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜（ITO膜）或納米涂層等半導(dǎo)體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具，還可對(duì)電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻進(jìn)行測量。配探頭，也可測試電池片等箔上涂層電阻率方阻。  
詳見《四探針探頭特點(diǎn)與選型參考》點(diǎn)擊進(jìn)入 
儀器具有測量精度高、靈敏度高、穩(wěn)定性好、智能化程度高、結(jié)構(gòu)緊湊、使用簡便等特點(diǎn)。  
儀器于半導(dǎo)體材料廠、器件廠、科研單位、高等院校對(duì)導(dǎo)體、半導(dǎo)體、類半導(dǎo)體材料的手持式導(dǎo)電性能的測試。

4) 適配器工作電源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W，或電池供電

5) 外形尺寸：W×H×L=10cm×3.6cm×21cm

凈   重：≤0.3kg

  
三、基本技術(shù)參數(shù) 
1. 測量范圍、分辨率

電    阻：     0.010Ω ～ 50.00kΩ,     分辨率0.001Ω ～ 10 Ω 
電 阻 率：     0.010Ω-cm～ 20.00kΩ-cm， 分辨率0.001Ω ～ 10 Ω-cm 
方塊電阻：     0.050Ω/□ ～ 100.00kΩ/□   分辨率0.001Ω ～ 10 Ω/□  
2. 可測材料尺寸 
手持方式不限材料尺寸，但加配測試臺(tái)則由選配測試臺(tái)決定如下： 
直    徑：SZT-A圓測試臺(tái)直接測試方式 Φ15～130mm。停產(chǎn) 
SZT-C方測試臺(tái)直接測試方式180mm×180mm。 
長(高)度：測試臺(tái)直接測試方式 H≤100mm。. 
測量方位: 軸向、徑向均可. 
3. 量程劃分及誤差等級(jí)

產(chǎn)品名稱：標(biāo)準(zhǔn)自動(dòng)振篩機(jī) 自動(dòng)振篩機(jī) 產(chǎn)品型號(hào)：XSB-70

標(biāo)準(zhǔn)自動(dòng)振篩機(jī) 自動(dòng)振篩機(jī)型號(hào)：XSB-70

該系列產(chǎn)品是與中國標(biāo)準(zhǔn)篩配置使用的精密篩分試樣設(shè)備，*符合國標(biāo)《GB474-1996煤樣的制備方法》《GB1997-89焦炭試樣的采取和制備》各項(xiàng)要求。
主要特點(diǎn)：
XSB-70型具備圓周擺動(dòng)，上下振擊雙重運(yùn)動(dòng)；
主要部件改用40cr優(yōu)質(zhì)鉻鋼，抗研磨、抗撞擊，確保精確度和使用壽命。篩分能力強(qiáng)，消除人工篩分誤差，可定時(shí)控制。吸收德國技術(shù)，結(jié)構(gòu)堅(jiān)實(shí)、巧妙、合理、造型美、篩分快、數(shù)據(jù)準(zhǔn)、性能穩(wěn)、噪音低、體積小、易操作、易維護(hù)。
主要技術(shù)指標(biāo)

	項(xiàng)目		單位		XSZ-70
	篩子直徑		mm		Ø200
	圓周擺動(dòng)頻率		次/min		220
	上下振擊頻率		次/min		149
	回轉(zhuǎn)半徑		mm		12。5
	振擊幅度		mm		3－4
	定時(shí)控制		min		0－15
	功率		KW		0。37
	外形尺寸		mm		550×380×735
	質(zhì)量（重量）		kg		－110